关于集成电路IC芯片温度冲击测试机的使用须知

发布时间:2022-04-06 13:39
作者:chinacryo

  集成电路IC芯片温度冲击测试机相较于传统的测试箱而言,外形美观大方,结构紧凑,采用移动式设计,更换场地方便简易。10寸高清彩色触摸屏,人机交互界面,操作方便。可拆卸设计,方便对设备的内部组件进行维护或维修。

  一个完整的测试机包括主机、柔性空气输送管、支臂、移动头、玻璃护罩。柔性空气输送管是一个绝缘保温良好的软管,它将基本单元箱体连接到移动头上的玻璃护罩(或客户定制的测试箱)。柔性空气输送管是一个绝缘保温良好的软管,它将基本单元箱体连接到移动头上的玻璃护罩(或客户定制的测试箱)。然后通过喷入气体测试芯片在不同温度环境下的功能使用情况。  

集成电路IC芯片温度冲击测试机在使用前须了解的要点:

  1、使用前软硬件准备

  在集成电路IC芯片温度冲击测试机的环境试验过程中,须先了解试验所需的样品性能、试验条件/试验程序和试验技术,所用试验设备的技术性能,以及设备的结构,特别是控制器的操作和性能。仔细阅读测试设备的操作手册,避免因操作错误导致测试设备异常操作,导致测试样品损坏和测试数据不正确。

  

  2、合理选择集成电路IC芯片温度冲击测试机设备

为了保证试验的正常进行,应根据试验产品的不同情况选择合适的试验设备,针对测试芯片的大小,选择合适的隔热玻璃罩。针对在线式IC的测试,也能实时监测出温度冲击所带来的性能变化。

  3、正确放置试验样品

用隔热玻璃罩罩杯将被测物体(IC)罩住, 使之与周围环境隔离开来,从而形成一个相对独立的小型密闭空间。然后通过喷入气体,针对整块PCB板提供温度环境或高低温冲击;如果一块PCB板上有很多元器件,但你只需要针对其中的某一个IC 单独进行高低温冲击而不影响周边其它元器件。


标签:快速循环温度冲击系统高低温冲击气流仪Temperature Forcing 半导体芯片

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