ThermoTST热流仪, 实现高低温冲击测试

发布时间:2022-06-17 11:32
作者:chinacryo

   成都中冷低温ThermoTST TS系列超高速高低温气流冲击机, 移动型便携式设计, 提供清洁干燥的冷热循环冲击气流. ThermoTST TS系列热流仪提供快速精准的测试温度, 适合模拟各种温度测试和调节的应用, 广泛应用于集成电路 IC 卡, 电子芯片, 闪存, 光纤收发器或电子电路的在线式高低温循环试验热测试循环, 高低温冲击测试 Thermal shock, 产品特性分析等.
    ThermoTST TS系列热流仪利用创新的温度测试解决方案, 方便您直接在实验室及工作平台上进行光组件, PCB电路板、IC芯片、器件模块等测试.


ThermoTST TS系列高低温测试机特性:
单级冷冻机(Chiller)设计,不需要液态氮气或二氧化碳冷却
每秒可快速升温或降温变化
温控精度和分辨率 ±0.1℃
温度精度 ±1.0℃

设备可以提供极高温度 + 225 ℃;极低温度-90 ℃
远程通讯支持 RS-232,LAN;可选:GPIB
控制面板采用高清触摸屏操作
特殊设计,防止水气在 DUT上凝结
2种检测模式 Air 模式和 DUT 模式

与传统高低温试验箱对比,成都中冷低温ThermoStreamTST TS系列热流仪主要优势:
1、变温速率更快,可快速升温/降温
2、温控精度:±1℃;
3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度
4、针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件
5、对测试机平台 load board上 的 IC 进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。
6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。


一、ThermoTST  TS -300系列热流仪:小型台式机型,适用于实验室或工业生产环境中、传统的半导体和小装配器件温度测试。

 型号
温度范围 °C
系统气流量
变温速率
TS-325
-25 ºC 至 + 225 ºC
3 ~ 10SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s); 选配:3~12SCFM(1.4L/S~5.6L /S)
-5ºC 至 +125ºC约10s
TS-345
-50 ºC 至 + 225 ºC
3 ~ 10SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s); 选配:3~12SCFM(1.4L/S~5.6L /S)
-40ºC 至 +125ºC约10s
TS-360
-60 ºC 至 + 225 ºC
3~10 SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s); 选配:3~12SCFM(1.4L/S~5.6L /S)
-45ºC 至 +125ºC 约10s
HTS-300
常温至+ 280 ºC
4 ~ 18 SCFM(1.9L/s ~ 8.5L/s)
常温 至 + 125ºC约10s


二、ThermoTST TS-700系列热流仪:该系列可以快速和精确控制您的组件和模块到达所需要的温度,极限温控功能 -90°C 至 +225°C,不仅可以经由加速到达设定温度的时间来提高产能,还可以让高功率组件和大热容量器件在中国军用标准(GJB)/美国标准 (MIL-STD)/ JEDEC协会标准的测试条件下,满足24 小时 7天的连续测试。无论是单独直接测试还是用在外接的腔体、风罩,强大且灵活性的TS-700系列高低温热流仪都可以胜任。

型号
温度范围 °C
系统气流量
变温速率
TS-760
-70 ºC 至 + 225 ºC
4~18 SCFM(1.9L/s ~ 8.5L/s)
-55至 +125°C 约10 s
TS-780
-80 ºC 至 + 225 ºC
4~24 SCFM(1.9L/s ~ 11.3L/s)
-55至 +125°C 约10 s
TS-790
-90 ºC 至 + 225 ºC
4~18SCFM(1.9L/s ~ 8.5L/s)
-55至 +125°C 约10 s


成都中冷低温超过12年的热能工程和测试系统开发领域专家。ThermoTST TS系列热流仪凭借提供精密的温度测试环境,作为优秀的高速热测试设备广泛应用于芯片行业。

标签:快速循环温度冲击系统高低温冲击气流仪半导体芯片半导体器件

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