ATE，全称Automatic Test Equipment，即芯片自动测试机台，是芯片晶圆以及芯片封装后，实施功能及性能测试的自动化设备。ATE测试是芯片设计-制造-应用产业链中，不可缺失的重要环节。

ATE主要测试内容为半导体器件的电路功能、电性能参数，具体涵盖直流参数（电压、电流）、交流参数（时间、占空比、总谐波失真、频率等）、功能测试等。它主要应用于芯片设计、晶圆制造、封装测试三个环节。

相应不同类型的ATE测试机台，主要有如下四大类ATE板卡：晶圆测试机台需要用到探针卡（Probe Card）和转接板（英文Interposer，也叫MLO），FT测试机台需用到负载板（Load Board），老化测试机台需用到老化测试板（Burn-in Board，简称BIB）。

而针对于测试板卡中的外包订单，其主要来源于IC设计企业，但目前由于国内IC设计公司自身已完成了很大一部分测试板卡的设计工作，对外外包设计的部分并不多，故导致测试板卡外包设计企业相对较少。

长川CTT3600测试机是以测试功率器件为目标的高性能测试机。有1000V/50A、2000V/100A、等不同规格，主要可测试三极管、MOSFET、二极管、稳压管、IGBT等功率器件。成都中冷低温科技有限公司研发的冷热冲击试验机TS580搭配长川CTT3600测试机应用于功率器件特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。

其特点有：

温度变化速率快，-55℃至+125℃之间转换约10秒

有效温度范围，-80℃至+225℃

结构紧凑，移动式设计

触摸屏操作，人机交互界面

快速DUT温度稳定时间

温控精度±1℃，显示精度±0.1℃

气流量可高达18SCFM

除霜设计，快速清除内部的水汽积聚

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