高低温循环测试系统是光通讯领域不可或缺的测试设备

发布时间:2023-05-11 10:13
作者:chinacryo

        高低温循环测试系统是光通讯、芯片、集成电路、实验室研究等领域不可或缺的测试设备,在可靠性测试过程中多项测试要求都需要搭载高低温循环测试系统来完成,用于测试和确定芯片、微电子器件及其他产品及材料进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能。采用单机式风冷制冷系统。一个低温制冷循环,其连接容器为蒸发冷凝器,蒸发冷凝器是也到能量传递的作用,将工作室内热能通过单级制冷系统传递出去,实现恒温的目的。制冷系统的设计应用能量调节技术,一种行之有效的处理方式既能保证在制冷机组正常运行的情况下又能对制冷系统的能耗及制冷量进行有效的调节,使制冷系统的运行费用和故障率下降到较为经济的状态。

高低温循环测试系统的功能特性:

  1、高低温循环测试系统是在瞬间转换温度,转换速率快,-55℃至+125℃之间转换约10秒,所以通常又叫超高速高低温气流冲击机,而且温度冲击是在非线性的情况下完成的。温度冲击原理是需要高温测试时高温通过控制系统自动输送到加热头以达到高温冲击的效果,低温冲击同理,以实现温度冲击的目的。

  2、温度变化是在规定的时间内完成降温和升温。例如一台温度范围-55度到120℃的设备,设置斜率为10℃/min,则从120℃降到-55℃需要17分钟,但一般来说高低温循环测试系统不需要单独设置斜率,默认值0/9999 为温度升降温最快速率执行,从120℃降到-55℃约10s即可完成,是一般高低温试验机不可匹敌的。

       中冷低温研发的ThermoTST TS560是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围-70℃到+225℃,提供了很强的温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; 经长期的多工况验证,满足各类生产环境和工程环境的要求。TS560是纯机械制冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

标签:光模块测试高低温冲击测试

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